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半導體測試電源是為測試半導體器件在各種環境條件下能*實現設計規格書所規定的功能及性能指標設計的電源。可進行開路/短路測試、輸出驅動電流測試、漏電電源測試、轉換電平測試、立保持時間測試，功能速度測試、建立保持時間測試，功能速度測試、功能速度測試等等。中國臺灣洛儀半導體測試電源系列具有動態響應可控、電壓和電流變化斜率高且可設定、穩定性高、易于集成和操作、低紋波和噪聲、靈活的功率調整輸出等特點，為測試產品提供真實有效的依據與保證。適用于二極管、LED、功率半導體元件測試或汽車電子、鉛酸電池或鋰離子電池測試等領域。
半導體測試電源特點：
動態響應可控；
電壓和電流變化斜率高且可設定；
靈活的功率調整輸出；
采用FPGA數字化控制技術，整體模塊化設計，穩定性更好，可靠性更高；
采用新型線路設計，低紋波、低噪聲、高穩定性、無高頻干擾信號；
使用*直接數字合成（DDS）波形產生技術，頻率穩定性高，連續性好；
按鍵加飛梭編碼器調節輸出參數，可以做到微調與快速輸入調節，操作更便捷；
多種操作模式編程輸出，可實現模擬各種復雜的用電環境；
各種保護功能（OVP，OCP，OPP，OTP及編程保護）；
支持上位機操作功能，配有上位機軟件及外部通訊接口；
優化性系統散熱，可使設備長時間運行并保證數據的穩定性；
大屏幕液晶顯示器、可顯示參數、狀態及報警等全麺的數據；
大功率、快響應、數字化；
數字控制器+PLC+工業PC；
模塊化、單元化組建結構。
